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人才
院士简介
李方华 李荫远 陈立泉 张殿琳 范海福 杨国桢 赵忠贤 章 综 梁敬魁 张杰 解思深 王鼎盛 王恩哥

李方华

简 历

1956年 毕业于苏联列宁格勒大学物理系 (学士)
1956-1986 任中国科学院物理研究所研究实习员、助理研究员、副研究员 1986-现在 任中国科学院物理研究所研究员
1993年 当选中国科学院院士
1982.10-1983.5 在日本大版大学应用物理系任访问学者

学术兼职

1984-1996选任中国电子显微学会副理事长、常务副理事长 现 任: 中国电子显微学会理事长、中国物理学会理事、中国晶体学会理事、国际晶体学联合会电子衍射专业委员会委员; 中国科学院金属研究所固体原子像开放实验室学术委员会主任、中国科技大学结构分析开放实验室学术委员会副主任、中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷和微结构开放实验室学术委员会委员、中国科学院物理研究所表面物理国家实验室学术委员会委员,日本大版大学超高压电子显微镜中心海外顾问委员会委员;物理学报、物理学报海外版、物理快报、电子显微学报、J.Electron Microscopy编委

    科技成就

    李方华发展了高分辨电子显微学和电子晶体学的理论及分析方法,在该领域中占有重要的国际地位。她曾应邀在国际学术会议和讲习班上作特邀报告和担任教员三十次,发表论文二百余篇,应邀在 <Crystal-Quasicrystal Transition> (1993)一书中撰写了一章,美国 Plenum 出版社最近来函请她撰写一本专著,并已签约。

(1) 高分辨电子显微学和电子晶体学方面

    六十年代初期,李方华最早在我国开展了电子衍射测定单晶体结构的工作,在国内首次测定出晶体中氢原子的位置,有关文献至今仍被国外同行引用。
    七十年代,李方华与范海福合作,探讨了衍射方法与高分辨电子显微学相结合的研究,创建了高分辨电子显微学中一种新的图像处理理论和技术。后来,她和她的学生建立了基于最大熵原理的解卷处理技术。为测定微小晶体结构提供了重要途径。目前已成功地应用于测定高温超导体等材料的晶体结构。
    八十年代在日本留学期间,李方华总结出新的实验规律,发展了测定轻原子位置的方法。在此基础上,回国后她提出了一个新的像衬理论:“赝弱相位物体近似" ,该理论首次阐明了像强度与 晶体厚度之间的关系,揭示了轻重不同原子像强度的变化规律,是上述图像处理技术的理论依据。在该理论指导下,李方华等首次从实验观察到晶体中的锂原子。此外,她用高分辨电子显微学手段参加了早期的高温超导材料研究,是国际上最早报道铋系超导体有无公度调制结构的小组之一。

(2)准晶体方面
    李方华所领导的研究组最早发现并报导了准晶与晶体之间几乎连续的转变过程,她对此给予理论解释。李方华借助相位子应变场导出了反映准晶与晶体之间的关系的一些公式,并在此基础上提出了一种测定准晶结构的新方法,以及求定准晶中局域相位子应变量的方法。并成功地应用于 Al-Cu-Li 和 Al-Mn-Si 准晶。

(3)晶体缺陷方面
    最近,李方华针对新发展的场发射电子显微镜,提出了测定原子分辨率晶体缺陷的新研究方向。目前,已成功地用她提出的方法测定了SiGe/Si外延膜界面的60度位错分解为90度和30度两个不全位错,及其间夹着的一片层错.这也是第一次报道SiGe/Si外延膜界面原子分辨率的缺陷.

    获奖情况
(1)“晶体结构和缺陷的直接观测”(1984)中国科学院科技成果奖二等奖,第一完成人。
(2)“高分辨电子显微学赝弱相位物体近似像衬理论及晶体结构新现象”(1989)中国科学院自然科学奖二等奖,第一完成人。
(3)“液氮温区氧化物超导体的发现”(1989)国家自然科学奖一等奖,第九完成人(前八名不从事电子显微学研究)。
(4)“准晶体结构和相位子缺陷研究”(1991)中国科学院自然科学奖二等奖,第一完成人。
(5)“高分辨电子显微学中的图像处理理论和方法研究”(1991)中国物理学会叶企孙物理奖,第一完成人;(1992)中国科学院自然科学奖一等奖,第一完成人。
(6)(1992)中国电子显微学会桥本初次郎奖(个人奖)
(7)(1993)中国电子显微学会钱临照奖(个人奖) 

    国际会议特邀报告清单

1986:
(1) International Beijing Symposium of Electron Microscopy (EM), Beijing, 'Application of diffraction analysis in high-resolution electron microscopy (HREM)'.
1987:
(2) 14th International Congress on Crystallography, Perth, Australia, 'Image deconvolution for perfect crystal images'.
(3) Internation Symposium on Validity of EM on Crystal Structures, Melbourne, Australia, 'Crystal structrue determination by HREM'.
(4) International Workshop on Quasicrystals, Beijing, 'Possible approach to the phase problem in quasicrystals'.
1988:
(5) 4th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy, Bangkok, Thailand, 'Structure analysis in HREM'.
(6) International Symposium and Workshop on Electron Microscopy, Guangzhou, China, 'Transmission electron microscopy study of imperfect quasicrystals'.
1989:
(7) 3th International Beijing Conference and Exhibition on Instrumental Analysis, Beijing, 'Electron diffraction and HREM study on intermediate states between icosahedral phase and body centered cubic phase'.
1990:
(8) International Workshop on Electron Crystallography, Erice, Itally, 'Crystal structures from HREM'.
(9) International Symposium on EM, Beijing, China, 'Image processing in HREM by means diffraction analysis and maximum entropy'.
(10) International Workshop and Summer School on High Temperature Superconductivity, Beijing, 'Transmission Electron Microscopy study of high temperature superconductors'.
(11) International Congress on Mineralogy, Beijing, 'Transmission electron microscopy on minerals'.
1991:
(12) International Workshop on Methods of Structure Analysis of Modulated Structures and Quasicrystals, Lekeitio-Bilbao, Spain, 'Crystal structure determination based on high dimensional crystal construction'.
1992:
(13) 5th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy, Beijing, 'Crystal structure determination by combining HREM and electron diffraction'.
1993:
(14) 16th International Congress on Crystallography, Beijing, 'Image deconvolution and resolution enhancement in electron crystallography'.
(15) 7th Chinese Intern. Summer School of Physics and Beijing Intern. Workshop on Modern Crystallography, 'Crystal structure determination by combining HREM and electron diffraction'. Intern. School on Electron Crystallography, Beijing, 'Crystal structure determination in HREM'.
(16) 5th Intern. Beijing Conference and Exhibition and Instrumental Analysis, Beijing, 'Incommesurate modulated structure from combination of HREM and electron diffraction'.
1994:
(17) 13th International Congress on Electron Microscopy, Paris, France, 'Two-stage image processing in HREM'.
(18) International Summer School on Electron Crystallography, Theory and Practice, July 11-15, Bristol, England, "Electron crystallographic image processing".
1995:
(20) International Meeting on High Voltage Electron Microscopy, Osaka, Japan, "The importance of high voltage Electron Microscopy for electron crystallography".
(21) 6th International Beijing Conference and Exhibition on Instrumental Analysis, Beijing, "Electron diffraction intensity correction in combination with HREM".
1996:
(22) 6th Asia-Pacific Conference on Electron microscopy, July 1-5, Hong Kong, "Image restoration in high resolution electron microscopy".
(23) International Conference on Electron Crystallography, Stockholm, Sweden, "Crystal structure determination by combining high resolution electron microscopy and electron diffraction".
1997:
(24) 5th International Conference Materials and Mechanisms of Superconductivity High-Temperature Superconductors, Feb. 28-March 4, Beijing, "Electron crystallographic study of superconducting oxides and related Compounds".
(25) Asian Science Seminar on New Direction in Transmission Electron Microscopy and Nano-characterization of Materials, Fukuoka, March 17-29, Japan, "Application of image deconvolution based on weak-phase object Approximation".
(26) International Workshop on Image Analysis Methods in Quantitative Electron Microscopy, March 10-14, Schlo( Ringberg, Germany, "Crystallographic image processing approach to crystal structure determination".
(27) International School on Electron Crystallography, May 22 - June 2, Erich, Italy, "Image formation and image contrast in HREM".
(28) International School on Electron Crystallography, May 22 - June 2, Erich, Italy, "Crystal structure determination by two-stage image processing".
(29) 7th International Beijing Conference and Exhibition on Instrumental Analysis, October 14-17, Shanghai,China, "Defect determination in SiGe/Si at atomic level".
1998:(30) 14th International Congress on Electron Microscopy, August 31 - September 4, Cancun, Mexico, "Incommensurate modulated structure determination based on the combination of HREM and electron diffraction".
 
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